上海XRD检测是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。当某物质(晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象,物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。上海XRD检测具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。因此,上海XRD检测作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法,已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。
XRD和XRF的区别:
XRF检测的是元素组成及含量,而上海XRD检测则反映的是化合物的结构情况,因而两者的应用场合也有着本质的区别。具体如下:
1、用途不同:
XRD是x射线衍射光谱,(X-ray diffraction analysis)是用于测定晶体的结构的,而XRF是x射线荧光发射谱,(X-ray fluorescence analysis)主要用于元素的定性、定量分析的,一般测定原子序数小于Na的元素,定量测定的浓度范围是常量、微量、痕量。
2、原理上的差别:
XRD是以X射线的相干散射为基础,以布拉格公式2d sinθ=nλ、晶体理论、倒易点阵厄瓦尔德图解为主要原理的;
XRF则是以莫斯莱定律(1/λ)1/2=k(Z-S),k,S是与线性有关的常数。因此,得出不同元素具有不同的X射线(即特征线)为基础对元素定性、定量分析的。
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